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瞬态光电测试

网站首页    瞬态光电流测试    瞬态光电测试

开关比/低速瞬态特性测试

     光电流,开路电压的瞬态特性以及开关比是表征光电器件的重要参数,但是在二维材料领域,由于器件面积小,光电流通常也很小,非常难以准确测量出光电流随时间的变化。LNPC光电测试套件包括了开关比测试和高速瞬态光电流测试的功能。Metatest Suite可以调制激光器的开关并且同时使用源表精确测量光电流,从而得到准确的器件开关比,测试速度最高每秒5个数据点。对于器件响应速度测试,配合mLaser系列激光器或者OBIS_LX系列激光器,对于小至1nA的光电流系统响应速度可以达到50μs,采样时间间隔低至100ns。并且Metatest Suite测试系统可以准确同步激光发射和光电流测试的时间,从而可以通过多次平均的方法显著提高瞬态光电流测试的信噪比。同样的测试原理也可以适用于利用氙灯作为光源的光电流测试和电致发光响应速度测试。

    本测试使用OBIS 405nm激光器,使用了模拟调制来驱动激光器的打开与关闭,通过改变光功率并在偏压为0.5V,表征了某器件不同激发光强下的开关比。

 

光电流瞬态特性测试

    本测试使用了OBIS 405nm激光器(上升沿约2ns),Hamamatsu 9055探测器(上升沿小于1ns),使用了数字触发来驱动激光器的打开与关闭。本测试表征了测试系统的响应速度,通过调节激光器衰减,可以控制探测器的光电流。对于微弱光电流(1nA左右),LNPC光电流测试系统响应速度约50μs,对于较强光电流(400nA左右),由于电流放大器所需增益减小,LNPC光电流测试系统响应速度约为300ns左右。

 

2019年9月8日 23:06
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